高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗(yàn)。

　　該試驗(yàn)箱除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))等，去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上，據(jù)統(tǒng)計(jì)，半導(dǎo)體破壞率：59%是由靜電所引起的。

　　高低溫濕熱試驗(yàn)箱加濕的過程實(shí)際上就是提高水汽分壓力，初的加濕方式就是向試驗(yàn)箱壁噴淋水，通過控制水溫使水表面飽和壓力得到控制。箱壁表面的水形成較大的面，在這個(gè)面上向箱內(nèi)通過擴(kuò)散的方式向箱內(nèi)加入水汽壓使試驗(yàn)箱中相對(duì)濕度升高，這一方法出現(xiàn)在上世紀(jì)五十年代。由于當(dāng)時(shí)對(duì)濕度的控制主要是用水銀電接點(diǎn)式導(dǎo)電表進(jìn)行簡(jiǎn)單的開關(guān)量調(diào)節(jié)，對(duì)于大滯后的熱水箱水溫的控制適應(yīng)性較差，因此控制的過渡過程較長(zhǎng)，不能滿足交變濕熱對(duì)加濕量要求較多的需要，更重要地是在對(duì)箱壁噴淋的時(shí)候，不可避免地有水滴淋在試品上對(duì)試品形成不同程度的污染。同時(shí)對(duì)箱內(nèi)排水也有一定的要求。因此在早期就采用了蒸汽加濕和淺水盤加濕，雖然它的控制過渡過程較長(zhǎng)，但系統(tǒng)穩(wěn)定后濕度波動(dòng)較小，比較適合做恒定濕熱試驗(yàn)。另外在加濕過程中水汽不過熱不會(huì)增加系統(tǒng)中的額外熱量。還有，當(dāng)控制噴淋水溫使之低于試驗(yàn)要求的要點(diǎn)溫度時(shí)，噴淋水具有除濕作用。